電阻抗成像原位在線監(jiān)測(cè)超濾膜污染行為研究

膜分離工藝在水處理中的應(yīng)用受到膜污染的限制，膜污染會(huì)導(dǎo)致膜滲透性降低[1]，因?yàn)椴牧蠒?huì)隨著時(shí)間的推移在膜表面和孔內(nèi)積累。膜污染導(dǎo)致更高的跨膜壓力、頻繁化學(xué)清洗以及縮短膜使用壽命相關(guān)的運(yùn)營(yíng)成本增加[2-3]。因此，快速、直觀獲取膜污染的相關(guān)信息十分必要。

當(dāng)前在膜污染監(jiān)測(cè)方面，可視化觀測(cè)技術(shù)由于其直觀、快捷的特點(diǎn)被應(yīng)用于膜污染成因分析、膜系統(tǒng)問(wèn)題診斷以及運(yùn)行與決策等領(lǐng)域。掃描電子顯微鏡(SEM)[4-5]、原子力顯微鏡(AFM)[6-7]和共聚焦掃描激光顯微鏡(CSLM)[8-9]已廣泛用于研究膜面污垢形態(tài)，但以上方法需要中斷膜過(guò)濾將膜取出再進(jìn)行檢測(cè)，且會(huì)對(duì)膜面原位形貌產(chǎn)生一定程度的破壞。Li等[10]通過(guò)直接觀察(DOTM)技術(shù)可視化錯(cuò)流模塊中平板膜上的結(jié)垢，觀察反沖洗沉淀和酵母菌結(jié)垢；Gao等[11]將光學(xué)相干斷層掃描(OCT)系統(tǒng)與實(shí)驗(yàn)室規(guī)模的膜過(guò)濾系統(tǒng)相結(jié)合，通過(guò)結(jié)構(gòu)成像觀察污垢層的生長(zhǎng)情況；Hammer等[12]將核磁共振成像技術(shù)應(yīng)用于原位監(jiān)測(cè)中空纖維膜的污染過(guò)程，實(shí)時(shí)觀測(cè)到膜過(guò)濾過(guò)程中的濃差極化、濾餅層的形成等動(dòng)態(tài)過(guò)程。Azizighannad等[13]提出了拉曼化學(xué)成像技術(shù)在識(shí)別和區(qū)分膜表面污染的無(wú)機(jī)鹽中的應(yīng)用，研究了膜蒸餾法對(duì)脫鹽過(guò)程中聚四氟乙烯膜的污染，并通過(guò)拉曼成像技術(shù)繪制了膜表面CaSO4、BaSO4和CaCO3的分布圖。但由于SEM、AFM、CLSM等方法需要將膜取出進(jìn)行檢測(cè)，僅在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后才能進(jìn)行，無(wú)法獲取膜過(guò)濾期間的污染變化過(guò)程。在線的DOTM和OCT技術(shù)需要透明的觀察窗，對(duì)操作壓力有要求，核磁共振成像技術(shù)成本較高，拉曼成像主要用于監(jiān)測(cè)無(wú)機(jī)鹽離子，需要開(kāi)發(fā)一種原位、在線、應(yīng)用廣泛、價(jià)格低廉的可視化監(jiān)測(cè)技術(shù)。

電阻抗成像(EIT)是一種視覺(jué)測(cè)量技術(shù)，可以直觀顯示被測(cè)區(qū)域的電導(dǎo)率分布，而不會(huì)破壞被測(cè)區(qū)域[14]。近年來(lái)，EIT得到了廣泛的應(yīng)用。在臨床醫(yī)療檢測(cè)領(lǐng)域，包括乳腺癌檢測(cè)和成像[15]，大腦[16]和腹部器官的功能成像[17]等；在工業(yè)領(lǐng)域，監(jiān)測(cè)水泥基材料的含水情況[18]；該技術(shù)還應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，孫國(guó)中等[19]基于EIT的土壤電阻抗成像(SEIT)系統(tǒng)，檢測(cè)土壤水分鹽分的空間分布。且隨著EIT技術(shù)的發(fā)展，許多學(xué)者將其應(yīng)用于水質(zhì)的監(jiān)測(cè)，劉宗毓[20]將卡爾曼濾波算法加入水質(zhì)監(jiān)測(cè)的EIT 動(dòng)態(tài)成像方法中，并根據(jù)水質(zhì)監(jiān)測(cè)空間狀態(tài)模型對(duì)該方法進(jìn)行改進(jìn)；竇唱[21]設(shè)計(jì)了用于膜完整性檢測(cè)的傳感器陣列，分別對(duì)湖水和生活污水實(shí)驗(yàn)中的滲透液進(jìn)行邊界電壓采集并完成數(shù)據(jù)集劃分，初次奠定EIT在膜領(lǐng)域的應(yīng)用基礎(chǔ)。與其他斷層掃描技術(shù)相比，EIT具有多種優(yōu)勢(shì)，例如便攜性、安全性、低成本、非侵入性和快速響應(yīng)[22]。因此，它可以提供一種新穎的成像解決方案[23]。

盡管有一些關(guān)于不同種類樣品的電阻抗成像的報(bào)道，但該技術(shù)尚未應(yīng)用于膜污染監(jiān)測(cè)領(lǐng)域。本研究將EIT設(shè)備與膜過(guò)濾系統(tǒng)相結(jié)合，實(shí)時(shí)掃描過(guò)濾過(guò)程中形成的污垢層，并獲得一系列EIT圖像。通過(guò)施加激勵(lì)電流，分析響應(yīng)電壓，重構(gòu)被測(cè)物內(nèi)部截面電導(dǎo)率分布圖，可以實(shí)現(xiàn)污垢層生長(zhǎng)的可視化。然后在不同的污染時(shí)間條件下獲得了一系列污染層EIT圖像作為過(guò)濾時(shí)間的函數(shù)，對(duì)采集的平均電壓進(jìn)行分析得到不同過(guò)濾條件、不同過(guò)濾時(shí)間下污染情況的半定量化信息，并且通過(guò)三維曲面圖可獲取當(dāng)前過(guò)濾環(huán)境下信號(hào)采集特點(diǎn)。根據(jù)距離膜不同截面的三維曲面圖可以得到膜污染層生長(zhǎng)情況方面的信息，為進(jìn)一步半定量化污染層厚度奠定基礎(chǔ)。采用EIT對(duì)沉積在膜面的污染層進(jìn)行成像分析，以研究EIT在研究膜污染形成的技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)。

1 實(shí)驗(yàn)材料和方法

1.1 實(shí)驗(yàn)裝置及材料

實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示。在過(guò)濾實(shí)驗(yàn)中，將一定量高活性酵母(安琪酵母股份有限公司)或高嶺土(阿拉丁股份有限公司)溶于10 mmol/L的NaCl(天津市風(fēng)船試劑科技有限公司)溶液中，配制成濃度為2 g/L的過(guò)濾溶液，混合溶液中酵母與高嶺土濃度也均為2 g/L。采用的超濾（UF）膜為聚偏氟乙烯膜(PVDF，中科瑞陽(yáng)膜技術(shù)有限公司)，型號(hào)為UF100，標(biāo)稱截留分子質(zhì)量100 kDa。使用壓力傳感器(MIK-PX300，杭州美控自動(dòng)化科技有限公司)傳輸跨膜壓差(TMP)的變化值，記錄在無(wú)紙記錄儀(MIK-R9600，杭州美控自動(dòng)化科技有限公司)上，通過(guò)蠕動(dòng)泵(BT100-2J，蘭格恒流泵有限公司)來(lái)調(diào)節(jié)錯(cuò)流速度。所有過(guò)濾實(shí)驗(yàn)均在自行開(kāi)發(fā)的錯(cuò)流過(guò)濾池中進(jìn)行。過(guò)濾池有兩個(gè)小室，進(jìn)水側(cè)小室側(cè)面布有16個(gè)電極陣列(材料為銅)，電極均勻分布在半徑為2 cm的圓上，電極半徑為0.1 cm，長(zhǎng)4.0 cm，有效膜面積為28.26 cm2，過(guò)濾池連接有進(jìn)料罐和壓力傳感器。連續(xù)滲透通量數(shù)據(jù)使用連接到計(jì)算機(jī)的電子天平(UX2200H，日本島津公司)每60 s記錄一次。所有過(guò)濾實(shí)驗(yàn)在室溫(25℃±1℃)下進(jìn)行。在每次過(guò)濾測(cè)試中均使用原始膜，新膜在使用之前在超純水中浸泡4 h。在污染物結(jié)垢過(guò)濾之前，用超純水進(jìn)行過(guò)濾，直至達(dá)到穩(wěn)定的通量。

圖1

圖1   實(shí)驗(yàn)裝置圖

(a) 實(shí)驗(yàn)裝置示意圖;(b) EIT評(píng)價(jià)池分解圖;(c) 實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)物連接圖1—計(jì)算機(jī);2—滲透液罐;3—電子天平;4—圖像處理系統(tǒng);5—蠕動(dòng)泵;6—壓力傳感器;7—無(wú)紙記錄儀;8—評(píng)價(jià)池;9—數(shù)據(jù)采集與處理單元;10—蠕動(dòng)泵;11—進(jìn)料液罐

Fig.1   Schematic diagram of experimental device

(a) Schematic diagram of experimental device; (b) Exploded diagram of EIT evaluation pool; (c) The experimental device1—computer; 2—permeate tank; 3—electronic balance; 4—image processing system; 5—peristaltic pump; 6—pressure sensor; 7—paperless recorder; 8—evaluation pool; 9—data acquisition and processing unit; 10—peristaltic pump; 11—feed solution tank

在運(yùn)行初始階段，開(kāi)展3次電阻抗成像的測(cè)量，在圖像處理系統(tǒng)(圖像分辨率512×512)上發(fā)布信號(hào)采集指令，隨后數(shù)據(jù)采集與處理單元開(kāi)始發(fā)出激勵(lì)電流(設(shè)置系統(tǒng)的電流激勵(lì)頻率為10 kHz，強(qiáng)度為 5 mA)，采集響應(yīng)電壓，重復(fù)進(jìn)行3次。

1.2 實(shí)驗(yàn)方法與理論

1.2.1 膜滲透通量性能測(cè)試

膜滲透通量和截留性能測(cè)試采用錯(cuò)流平板膜裝置，水溫校正為25℃，膜有效過(guò)濾面積28.26 cm2。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，穩(wěn)定狀態(tài)下的任意時(shí)刻滲透通量用式(1)表達(dá)[24]。

J=VtA$J=\frac{V}{tA}$(1)

膜污染一般用膜過(guò)濾過(guò)程中污染阻力來(lái)表征，根據(jù)達(dá)西定律[25-26]

J=ΔPμRt$J=\frac{?P}{\mu R_t}$(2)

1.2.2 EIT原理

EIT技術(shù)基本原理是在被測(cè)物體表面施加一個(gè)激勵(lì)電流(信號(hào))，同時(shí)測(cè)量被測(cè)物體表面的電壓(信號(hào))，然后利用特定的成像算法重新組織被測(cè)物體表面的電壓(信號(hào))。本文在測(cè)量階段采用“相鄰激勵(lì)-相鄰測(cè)量”的數(shù)據(jù)采集模式[27]，陣列阻抗測(cè)量以電學(xué)測(cè)量理論為基礎(chǔ)，同一頻率的激勵(lì)電流下測(cè)得的邊界電壓信息由敏感場(chǎng)內(nèi)部電導(dǎo)率σ分布唯一確定[28]：

U=F(σ)$U=F\left(\sigma \right)$(3)

在局部點(diǎn)σ0處進(jìn)行泰勒展開(kāi)并進(jìn)行局部線性化后，對(duì)其離散化處理得到靈敏度矩陣[ H (σ)]，稱為場(chǎng)靈敏度函數(shù)。

ΔU=H(σ)Δσ$?U=H\left(\sigma \right)?\sigma$(4)

電導(dǎo)G、電導(dǎo)率σ及電阻抗Z關(guān)系為

G=σSL$G=\sigma \frac{S}{L}$(5)Z=1G$Z=\frac{1}{G}$(6)Z=LσS$Z=\frac{L}{\sigma S}$(7)

將式(7)代入式(4)可得

ΔU=H(LZS)Δ(LZS)$?U=H\left(\frac{L}{ZS}\right)?\left(\frac{L}{ZS}\right)$(8)

因此，傳感器陣列采集的邊界電壓信息可以有效反映被測(cè)物體場(chǎng)區(qū)界面的電導(dǎo)特性[29]，故能體現(xiàn)膜面阻抗及污染分布。

EIT具體測(cè)量原理如圖2所示。將低強(qiáng)度交變電流從相鄰電極對(duì)注入敏感場(chǎng)，并在其他相鄰電極對(duì)上測(cè)量邊界電壓[30]，然后切換到下一個(gè)相鄰的電極對(duì)進(jìn)行激勵(lì)，測(cè)量其他相鄰的非激勵(lì)電極對(duì)上的電壓。一周期結(jié)束，可得到16×(16-3)=208 個(gè)電壓數(shù)據(jù)[31]；膜過(guò)濾初期T0測(cè)得的電壓值為空?qǐng)鰯?shù)據(jù)U0，過(guò)濾一定時(shí)間T1時(shí)測(cè)得的電壓值為物場(chǎng)數(shù)據(jù)U1，將兩組邊界電壓值相減（ΔU=U1-U0），根據(jù)式(3)的場(chǎng)靈敏度函數(shù)，通過(guò)共軛梯度算法重建圖像[32]，得到T0~T1期間膜污染變化圖像。

圖2

圖2   EIT膜污染檢測(cè)原理示意圖

Fig.2   Schematic diagram of the principle of EIT to monitor membrane fouling

在膜過(guò)濾過(guò)程中，隨著過(guò)濾時(shí)間的增長(zhǎng)，膜表面會(huì)形成濾餅層，導(dǎo)致測(cè)得的滲透液中的電導(dǎo)率發(fā)生變化，由式(4)可知采集的邊界電壓也會(huì)相應(yīng)變化，由于電極陣列是在線測(cè)量，為了避免單次測(cè)量隨機(jī)誤差對(duì)識(shí)別結(jié)果的影響，本研究使用循環(huán)測(cè)量一周期的電壓值計(jì)算得到的平均電壓來(lái)確定不同厚度濾餅層條件下的電導(dǎo)率變化。

Uˉˉˉ=1208∑i=1208vi$\bar{U}=\frac{1}{208}\sum _{i=1}^{208}{v}_i$(9)

Wang等[33]使用電學(xué)傳感器陣列采集滲透液的邊界電壓信息，對(duì)膜組件完整性進(jìn)行檢測(cè)，本實(shí)驗(yàn)在成像程序中采用差值成像可得到此時(shí)間段內(nèi)由于膜面發(fā)生污染導(dǎo)致的邊界電壓變化，從而判斷濾餅層生長(zhǎng)情況。

2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論

2.1 膜污染的雙變量相關(guān)性分析

在UF膜污染原位監(jiān)測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)滲透通量J與測(cè)得的平均電壓Uˉˉˉ$\bar{U}$之間存在著較強(qiáng)的相關(guān)性，將固定時(shí)間結(jié)點(diǎn)測(cè)得的J及Uˉˉˉ$\bar{U}$作為雙變量，探究UF膜污染過(guò)程中的膜阻力與平均電壓間的線性相關(guān)性。對(duì)于皮爾森相關(guān)(Pearson correlation)，兩變量間的差異為顯著，常記為p≤0.05；如果p≤0.01，則認(rèn)為兩變量間的差異為非常顯著[34]。通過(guò)大量實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析得出：J及Uˉˉˉ$\bar{U}$滿足較強(qiáng)的相關(guān)性(R=0.805，p<0.01)，且效果非常顯著（圖3）。

圖3

圖3   滲透通量與平均電壓相關(guān)性

Fig.3   Correlation between flux and average voltage

2.2 污染物對(duì)濾餅層結(jié)構(gòu)的影響

在本實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的UF膜過(guò)濾裝置中開(kāi)展無(wú)錯(cuò)流實(shí)驗(yàn)，以兩種典型污染物酵母及高嶺土為過(guò)濾溶液來(lái)研究單一及復(fù)合污染物對(duì)超濾膜污染的影響。圖4為180 min內(nèi)不同過(guò)濾溶液比通量、平均電壓、EIT圖像隨過(guò)濾時(shí)間的變化，圖5為180 min內(nèi)酵母溶液、高嶺土溶液、酵母及高嶺土混合溶液在膜表面上方不同距離三個(gè)截面的三維曲面圖。

圖4

圖4   180 min內(nèi)酵母溶液(a)、高嶺土溶液(b)、酵母和高嶺土混合溶液(c)比通量、平均電壓、EIT圖隨過(guò)濾時(shí)間的變化

Fig.4   Specific flux, average voltage, EIT image chart changes of yeast solution (a), kaolin solution (b), yeast and kaolin mixture solution (c) with filtration time within 180 min

圖5

圖5   180 min內(nèi)酵母溶液、高嶺土溶液、酵母及高嶺土混合溶液在不同成像截面的三維曲面圖

Fig.5   Three-dimensional surface diagrams of yeast solution, kaolin solution, yeast and kaolin mixture solution in different imaging sections within 180 min

由圖4可知，過(guò)濾溶液為酵母時(shí)，60 min比通量下降了83%，180 min后下降了93%；過(guò)濾溶液為高嶺土?xí)r，60 min比通量下降了44%，180 min后下降了64%；過(guò)濾溶液為酵母與高嶺土混合溶液時(shí)，60 min比通量下降了64%，180 min后下降了85%，混合溶液比通量居于酵母與高嶺土單一溶液之間。膜過(guò)濾過(guò)程可分為3個(gè)階段：(1)膜孔堵塞；(2)濾餅層形成；(3)濾餅層堵塞/濾餅層壓實(shí)過(guò)程[35]。膜污染會(huì)導(dǎo)致滲透通量和傳質(zhì)效率隨時(shí)間降低。酵母分子的長(zhǎng)度通常達(dá)到幾到幾十微米，高嶺土膠體粒徑不到2 μm，而UF膜的孔徑僅約為50 nm，故在過(guò)濾過(guò)程中，污染物在膜面發(fā)生堆積，形成濾餅層；隨著過(guò)濾時(shí)間增長(zhǎng)，濾餅層開(kāi)始發(fā)生壓實(shí)。整體來(lái)說(shuō)，酵母分子大于高嶺土膠體，在相同時(shí)間內(nèi)，酵母在膜面的堆積多于高嶺土，酵母溶液產(chǎn)生的膜污染最為嚴(yán)重，酵母與高嶺土混合溶液次之，高嶺土溶液最輕微。不同過(guò)濾溶液中平均電壓變化趨勢(shì)與通量幾乎一致，通量下降快時(shí)，平均電壓下降幅度也增大，故在進(jìn)行EIT測(cè)試時(shí)可以對(duì)膜污染進(jìn)程采取半定量化的判定。由不同階段的EIT圖可得：酵母溶液在10~60 min階段膜污染增長(zhǎng)嚴(yán)重，酵母與高嶺土混合溶液也類似，但高嶺土溶液在60~180 min階段膜污染增長(zhǎng)嚴(yán)重。通過(guò)EIT圖可直觀顯示不同時(shí)間段膜污染分布特征及污染程度。

對(duì)比圖5(a)~(c)，0~10 min時(shí)，酵母及酵母與高嶺土混合溶液在10 μm處產(chǎn)生的信號(hào)較強(qiáng)，而高嶺土溶液較弱，說(shuō)明此時(shí)間段內(nèi)高嶺土溶液產(chǎn)生的污染較輕微；10~60 min時(shí)，酵母及酵母與高嶺土混合溶液在30 μm 處產(chǎn)生的信號(hào)仍能觀察到，酵母溶液的更強(qiáng)一些，說(shuō)明其濾餅層生長(zhǎng)在20~30 μm之間，但高嶺土溶液僅在20 μm 處觀察到，說(shuō)明此時(shí)高嶺土溶液生長(zhǎng)的污染層較其他兩種更薄，約10~20 μm；60~180 min時(shí)，酵母及高嶺土溶液在30 μm處產(chǎn)生的信號(hào)仍較強(qiáng)，但混合溶液僅能在 20 μm處觀察到，說(shuō)明混合溶液濾餅層生長(zhǎng)在10~20 μm之間，而酵母、高嶺土溶液濾餅層生長(zhǎng)在20~30 μm之間。

2.3 錯(cuò)流沖洗速度對(duì)膜污染的影響

以兩種典型污染物酵母及高嶺土為過(guò)濾溶液，來(lái)研究不同錯(cuò)流速度下單一及混合污染物對(duì)UF膜污染的影響。圖6~圖8是過(guò)濾溶液分別為酵母、高嶺土、酵母與高嶺土混合溶液時(shí)，錯(cuò)流速度為0.1及0.2 m/s，180 min內(nèi)的比通量、平均電壓及EIT圖。

圖6

圖6   酵母溶液在錯(cuò)流速度為0.1 m/s(a)和0.2 m/s(b)時(shí)180 min內(nèi)通量變化、平均電壓變化及EIT圖

Fig.6   The flux change, average voltage change and EIT image of the yeast solution at a cross-flow velocity of 0.1 m/s (a) and 0.2 m/s (b) within 180 min

圖7

圖7   高嶺土溶液在錯(cuò)流速度為0.1 m/s(a)和0.2 m/s(b)時(shí)180 min內(nèi)通量變化、平均電壓變化及EIT圖

Fig.7   The flux change, average voltage change and EIT image of the kaolin solution at a cross-flow velocity of 0.1 m/s (a) and 0.2 m/s (b) within 180 min

圖8

圖8   酵母及高嶺土混合溶液在錯(cuò)流速度為0.1 m/s(a)和0.2 m/s(b)時(shí)180 min內(nèi)通量變化、平均電壓變化及EIT圖

Fig.8   The flux change, average voltage change and EIT image of the yeast and kaolin mixed solution at a cross-flow velocity of 0.1 m/s (a) and 0.2 m/s (b) within 180 min

由圖6~圖8同溶液不同錯(cuò)流速度下通量變化可知：過(guò)濾溶液為酵母時(shí)，0~180 min內(nèi)，錯(cuò)流速度從0.1增加至0.2 m/s，膜通量下降幅度變化較小，但從EIT圖可以看出隨著錯(cuò)流速度增大，污染有減輕的趨勢(shì)，可能是由于當(dāng)膜面被酵母污染物覆蓋之后，錯(cuò)流對(duì)膜表面進(jìn)行了沖刷，但膜近表面仍附著污染層，故通量變化不大，但EIT圖上顯示錯(cuò)流對(duì)膜面污染有明顯的沖洗作用，但對(duì)于膜通量的緩解作用很微?。贿^(guò)濾溶液為高嶺土?xí)r，前60 min內(nèi)隨著錯(cuò)流速度增大，比通量下降緩慢，但60 min后錯(cuò)流速度為0.1與0.2 m/s時(shí)比通量變化趨勢(shì)相當(dāng)，可能是由于過(guò)濾初期高嶺土形成的濾餅層較為薄且松散，被沖刷部分后對(duì)膜通量下降有緩解作用，但后期膜表面累積的污染層變厚變實(shí)，錯(cuò)流沖洗掉的外層部分對(duì)于膜通量幾乎沒(méi)有緩解作用；過(guò)濾溶液為高嶺土與酵母混合物時(shí)，膜污染情況與高嶺土為過(guò)濾溶液時(shí)相似。由于大體積的酵母形成的污染層較厚，故在經(jīng)過(guò)錯(cuò)流沖洗后，從EIT圖可看出酵母溶液造成的膜污染分布不均勻，而高嶺土溶液造成的膜污染最為均勻，混合溶液形成的污染分布居于兩者之間。

由圖6~圖8同溶液不同錯(cuò)流速度下平均電壓變化可知：總體而言平均電壓呈下降趨勢(shì)，因?yàn)殡S著膜面濾餅層厚度增加，造成膜面電導(dǎo)率升高，使測(cè)得的平均電壓下降，且通量下降快的時(shí)間段平均電壓也下降得快；由電壓數(shù)據(jù)重構(gòu)的EIT圖像可以進(jìn)一步區(qū)分膜污染分布的變化。綜合比通量、平均電壓及EIT圖像，可知在溶液濃度為2 g/L條件下，錯(cuò)流速度為0.1或0.2 m/s對(duì)于比通量的變化幾乎沒(méi)有影響，但從EIT圖中能看出錯(cuò)流速度增大，膜面污染分布減小，說(shuō)明EIT圖結(jié)合通量能更準(zhǔn)確判斷膜面污染分布情況。

3 結(jié) 論

（1）EIT結(jié)合通量能夠有效監(jiān)測(cè)平板UF膜污染，通過(guò)實(shí)時(shí)觀測(cè)過(guò)濾過(guò)程中形成的EIT圖，實(shí)現(xiàn)了污垢層生長(zhǎng)的可視化，并為膜厚度的判斷提供有效途徑，為原位、實(shí)時(shí)、無(wú)損的膜污染檢測(cè)提供了可實(shí)用的技術(shù)。

（2）在無(wú)錯(cuò)流情況下，對(duì)比酵母、高嶺土及酵母與高嶺土混合溶液，比通量下降程度不同，其中酵母的下降程度最大，造成的污染最嚴(yán)重，EIT圖也直觀顯示酵母造成的膜污染最嚴(yán)重，高嶺土最低，而酵母與高嶺土混合溶液造成的膜污染居中；在0~10及10~60 min內(nèi)，酵母及酵母與高嶺土混合溶液產(chǎn)生的污染層更厚，而60~180 min時(shí)，高嶺土產(chǎn)生的污染層更厚。

（3）在不同錯(cuò)流速度下，從EIT圖可看出酵母溶液造成的膜污染分布不均勻，高嶺土溶液造成的膜污染最為均勻，混合溶液形成的污染分布居于兩者之間；且錯(cuò)流速度增大，膜面污染分布減小，說(shuō)明EIT監(jiān)測(cè)結(jié)果結(jié)合通量能更準(zhǔn)確實(shí)時(shí)地判斷膜面污染分布情況。

符 號(hào) 說(shuō) 明